產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
聯(lián)系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿(mào)大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
技術(shù)文章
- 菲希爾XAN500手持膜厚儀：高精度便攜測量
- 如何校準(zhǔn)X射線熒光鍍層測厚儀以確保測量精度？
- 貴金屬元素分析儀的校準(zhǔn)方法有哪些？
- 美國丹納赫E-MAX：革新重金屬檢測技術(shù)的便攜式X熒光分析儀
- 派克DA400S：高性能便攜式磁粉磁軛探傷儀，無損檢測的新選擇
- ROHS檢測光譜儀的基本工作原理介紹
- 貴金屬元素分析儀在貴金屬礦石勘探和礦產(chǎn)開發(fā)中的作用是什么？
- 島津MIV-X超聲波光探傷裝置：創(chuàng)新技術(shù)無損檢測新時代
- ?？怂箍等鴺?biāo)Leitz Infinity：超高精度測量
- 日本電子JSM-IT800掃描電鏡：科研工業(yè)新選擇
產(chǎn)品中心
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號 | 產(chǎn)品描述 |
-
貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。 -
Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。 -
貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。 -
貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
-
X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術(shù)，可快速準(zhǔn)確定量分析土壤中鎘等重金屬元素，其*越檢測性能可以滿足中國農(nóng)用土壤監(jiān)管法規(guī)要求（GB15618-2018），檢出限輕松應(yīng)對鎘元素的法規(guī)限值0.3mg/kg。 -
貴金屬元素分析儀UX-620本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。
