華高儀器于2024年9月24日09:35發(fā)布了文章【日本電子掃描電鏡JSM-IT800產(chǎn)品介紹】。作為在儀器設(shè)備行業(yè)服務(wù)了多年的經(jīng)銷商，華高儀器有著專業(yè)的儀器銷售團(tuán)隊(duì)以及售后服務(wù)人員，在采購前期能給客戶一套專業(yè)完善的采購方案以及及時(shí)響應(yīng)的售后服務(wù)。

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概述

日本電子株式會(huì)社（JEOL Ltd.）作為電子顯微鏡領(lǐng)域的制造商，近年來不斷推出創(chuàng)新產(chǎn)品以滿足科研和工業(yè)領(lǐng)域的多樣化需求。其中，JSM-IT800熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM）是JEOL在2020年推出的新一代高性能設(shè)備，它繼承了JEOL系列掃描電鏡的大束流、高穩(wěn)定性的優(yōu)良傳統(tǒng)，并將分辨率提升至新的極限。JSM-IT800以其性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，成為材料科學(xué)研究、環(huán)保、化工、能源及電子等領(lǐng)域的理想選擇。

核心特點(diǎn)

高分辨率成像

JSM-IT800配備了浸沒式肖特基Plus場發(fā)射電子槍，結(jié)合新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，實(shí)現(xiàn)了超高分辨率的成像能力。其二次電子圖像分辨率在15kV加速電壓下可達(dá)0.5nm，即使在1kV的低加速電壓下也能達(dá)到0.7nm的分辨率。這一特性使得JSM-IT800在觀察納米尺度材料結(jié)構(gòu)時(shí)具有優(yōu)勢。

強(qiáng)大的分析功能

除了高分辨率成像外，JSM-IT800還集成了一體化X射線能量色散譜儀（EDS），能夠?qū)崟r(shí)顯示圖像和成分信息，無需模式切換，大大提高了分析效率。此外，該設(shè)備還支持電子背散射衍射（EBSD）分析，為材料科學(xué)研究提供了全面的分析手段。

靈活的物鏡模塊

JSM-IT800提供了多種物鏡模塊供用戶選擇，包括混合型物鏡（HL）、超級混合物鏡（SHL/SHLs）以及新開發(fā)的半浸沒式物鏡（i/is）。這些物鏡模塊能夠滿足不同用戶在不同應(yīng)用場景下的需求，從通用FE-SEM到高分辨率觀察和分析，再到半導(dǎo)體器件的故障分析，JSM-IT800都能提供解決方案。

創(chuàng)新的Neo Engine系統(tǒng)

Neo Engine是JEOL最新開發(fā)的電子光學(xué)控制系統(tǒng)，它集成了JEOL多年的核心技術(shù)，能夠在調(diào)整各種參數(shù)的同時(shí)進(jìn)行穩(wěn)定的觀察。該系統(tǒng)還具備增強(qiáng)的自動(dòng)功能，使得操作更加簡便。配合操作導(dǎo)航“SEM Center"，用戶可以輕松實(shí)現(xiàn)一鍵聚焦合軸，大大提高了設(shè)備的易用性。

優(yōu)秀的探測器系統(tǒng)

JSM-IT800配備了多種先進(jìn)的探測器，包括Inlens探頭和UHD探頭，這些探測器能夠高信噪比地進(jìn)行二次電子成像，對表面精細(xì)結(jié)構(gòu)更加靈敏。同時(shí)，設(shè)備還支持新型閃爍體背散射電子探測器（SBED）和多功能背散射電子探測器（VBED），SBED能夠在低加速電壓下獲取清晰的成分襯度圖像，而VBED則能夠獲取3D、形貌和成分襯度的圖像。

應(yīng)用領(lǐng)域

JSM-IT800憑借其性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，在納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。無論是材料科學(xué)研究中的高分辨率成像和成分分析，還是生產(chǎn)現(xiàn)場的質(zhì)量控制和產(chǎn)品檢驗(yàn)，JSM-IT800都能提供快速、高質(zhì)量的數(shù)據(jù)采集和無縫的分析操作。

總結(jié)

日本電子掃描電鏡JSM-IT800作為JEOL公司的新一代高性能設(shè)備，憑借其高分辨率成像、強(qiáng)大的分析功能、靈活的物鏡模塊、創(chuàng)新的Neo Engine系統(tǒng)以及優(yōu)秀的探測器系統(tǒng)，在科研和工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出了強(qiáng)大的競爭力。無論是材料科學(xué)家還是工業(yè)質(zhì)檢人員，都能從JSM-IT800中受益，實(shí)現(xiàn)更加精準(zhǔn)、高效的分析和研究工作。

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