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X射線熒光光譜分析儀計數(shù)率不穩(wěn)定分析處理建議
更新時間:2016-10-28 點擊次數(shù):1209次
X射線熒光光譜分析儀因其對元素分析有著的性能,而非常受市場的歡迎。X射線熒光光譜分析儀是光譜儀的一種,其在運行過程中有時會出現(xiàn)計數(shù)率不穩(wěn)定的情況。X射線熒光光譜分析儀的常用探測器有二個:閃爍計數(shù)器和流氣計數(shù)器。兩者相比較而言,閃爍計數(shù)器比流氣計數(shù)器更穩(wěn)定。因此,X射線熒光光譜分析儀出現(xiàn)計數(shù)率不穩(wěn)定的情況時,其問題通常出現(xiàn)在流氣計數(shù)器上。
流氣計數(shù)器窗膜由一塊聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄的鋁膜所構(gòu)成,由于窗膜承受大氣壓力,一段時間后隨著基體材料的延展,鋁膜可能產(chǎn)生裂紋,從而減弱導電性能,這種情況對脈沖高度分布影響不大,但會使計數(shù)率不穩(wěn)定。檢查方法:在低X射線光管功率情況下,選一個KKα計數(shù)率約2000CPS的樣品,測定計數(shù)率,然后用一個鉀含量高的樣品取代原樣品,將光管調(diào)到滿功率,保持2分鐘,再將X射線光管功率減至原值,測量*個樣品,如窗膜導電正常,將得到原計數(shù)率,如窗膜導電性能變差,會發(fā)現(xiàn)計數(shù)率減小,然后慢慢回升至初始值,這種情況下就應對窗膜進行調(diào)換。
X射線熒光光譜分析儀出現(xiàn)計數(shù)率不穩(wěn)定的情況時,應及時對儀器進行檢查,尋找到故障原因并進行排除。
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