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X射線熒光鍍層測(cè)厚儀品牌
- 更新日期:2024-11-11
- 訪問次數(shù):3657?
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀品牌:本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量,Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì),帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測(cè)系統(tǒng),眾多Z佳條件的選擇,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀品牌
配置型號(hào) | 探測(cè)器 | X光管 | 高壓電源 |
Ux-700 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上海科頤維(國(guó)產(chǎn)) | 咸陽威思曼(國(guó)產(chǎn)) |
Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上??祁U維(國(guó)產(chǎn)) | spellman(進(jìn)口) |
Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口) | 上海科頤維(國(guó)產(chǎn)) | spellman(進(jìn)口 |
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀品牌
UX-700產(chǎn)品指標(biāo):
測(cè)厚技術(shù):X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測(cè)量下限:0.003um
測(cè)量上限:30-50um(以材料元素判定)
測(cè)量層數(shù):10層
測(cè)量用時(shí):30-120秒
探測(cè)器類型:Si-PIN電制冷
探測(cè)器分辨率:149eV
高壓范圍:5-50Kv,50W
X光管參數(shù):5-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:鍍層濾光片
CCD觀察:260萬像素
微移動(dòng)范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測(cè)試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準(zhǔn)直器:Ø0.5mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
樣品腔:70*20mm
整機(jī)重量:38kg
UX-700產(chǎn)品介紹:
本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量,Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì),帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測(cè)系統(tǒng),眾多條件的選擇,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái),可以通過鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作,選擇樣品的多點(diǎn)測(cè)試,特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測(cè)試。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備,測(cè)試樣品的部位清楚明了,同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測(cè)試部位的圖片,和測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測(cè)試報(bào)告中。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度。
UX-700 鍍層測(cè)厚方法:
1.磁性涂層測(cè)厚法
使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測(cè)厚法
可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試,同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位:
微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
1um=39.4邁, 1um=0.04mil