UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯

• 更新日期：2024-11-11
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UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯
配置型號(hào)探測(cè)器X光管高壓電源
Ux-700 MAMPTEK Si-PIN X-123（進(jìn)口）上?？祁U維（國(guó)產(chǎn)）咸陽威思曼（國(guó)產(chǎn)）
Ux-700 HAMPTEK Si-PIN X-123（進(jìn)口）上海科頤維（國(guó)產(chǎn)）spellman（進(jìn)口）
Ux-700 SAMPTEK SDD X-123（進(jìn)口）上?？祁U維（國(guó)產(chǎn)）

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UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯
 

   配置型號(hào)    探測(cè)器    X光管    高壓電源    
Ux-700 M    AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口)    上?？祁U維（國(guó)產(chǎn)）    咸陽威思曼(國(guó)產(chǎn))    
Ux-700 H    AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口)    上海科頤維（國(guó)產(chǎn)）    spellman(進(jìn)口)    
Ux-700 S    AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口)    上?？祁U維（國(guó)產(chǎn)）    spellman(進(jìn)口 

產(chǎn)品介紹：
    本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量，Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測(cè)系統(tǒng)，眾多*條件的選擇，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
    X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
    Ux-700鍍層測(cè)厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái)，可以通過鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作，選擇樣品的多點(diǎn)測(cè)試，特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測(cè)試。
    Ux-700鍍層測(cè)厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備，測(cè)試樣品的部位清楚明了，同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測(cè)試部位的圖片，和測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測(cè)試報(bào)告中。
    Ux-700鍍層測(cè)厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度。
 
產(chǎn)品指標(biāo)：
測(cè)厚技術(shù)：X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測(cè)量下限：0.003um
測(cè)量上限：30-50um（以材料元素判定）
測(cè)量層數(shù)：10層
測(cè)量用時(shí)：30-120秒
探測(cè)器類型：Si-PIN電制冷   
探測(cè)器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數(shù)：5-50Kv，50W，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：鍍層濾光片
CCD觀察：260萬像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測(cè)試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：Ø0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：70*20mm
整機(jī)重量：38kg
 
鍍層測(cè)厚方法：
1.磁性涂層測(cè)厚法
    使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測(cè)厚法
    可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
    所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試，同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例。
 
常用單位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”，密耳（mil）
1um=39.4邁， 1um=0.04mil

UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯